undefined
+
  • undefined

综合物性测量系统

材料及凝聚态物理相关的输运研究是科研的核心领域之一。现今单一的温度、磁场环境下的基本电输运测量已经很难满足科研现场的实际需求。本系统提供为创新科研领域提供了一种磁、电、微波、热、光多矢量场复合的高自由度的测试环境。除霍尔效应、磁阻、I-V特性等基础输运测试之外,还适用于铁磁共振、
关键词:

产品介绍

材料及凝聚态物理相关的输运研究是科研的核心领域之一。现今单一的温度、磁场环境下的基本电输运测量已经很难满足科研现场的实际需求。本系统提供为创新科研领域提供了一种磁、电、微波、热、光多矢量场复合的高自由度的测试环境。除霍尔效应、磁阻、I-V特性等基础输运测试之外,还适用于铁磁共振、微波自旋泵浦、塞贝克及自旋塞贝克、反常霍克、反常能斯特等复杂复合场环境的测试需求。系统具有结构紧凑、简单易用、配置灵活、适用广泛等特点,保证用户快速方便进行样品测试,并获得准确可靠的数据。

 

产品特点

系统配备空冷小型电磁铁及双极性励磁电源,实现±3000 Oe~1T,5位精度磁场,配合高精度高斯计实现实时磁场反馈控制。配备±180°高精度磁场旋转台,角度控制精度≤0.01°。   
● 本系统支持用户自由组合仪表,支持USB、LAN、GPIB、232多种设备接口。支持Keithley,Keysight等主流厂商的各类数字仪表、波源、网络分析仪、锁相放大器等设备。亦可根据用户需求配置所需仪器设备。 
● 提供同轴电缆微波组件:包括平面波导片、同轴波导连接器及两路<18GHz微波输入、输出接口。可实现矢量磁场及变温环境下的高频阻抗、铁磁共振、自旋泵浦、自旋转矩等效应的测试,并可实现>200 GΩ的高阻测量。

● 提供热测量组件:可以实现变温变场环境下热电、热导率相关测试。

 

应用领域

I-V特性、电阻特性、磁阻(MR)、霍尔测量外,可实现矢量磁场、电场、热场、微波场条件下的物性测量,如塞贝克系数、热导率、交流磁化率、磁滞回线、热磁曲线等。 
适用于半导体器件评测、材料物性研究、自旋电子学、凝聚态物理等各种科研与教学场景中的应用。

 

技术参数

型号PPMS-T01PPMS-T800PPMS-T04
温度范围70K~400KRT~800K4K~400K
控温精度一级控温时精度<±0.05 K;二级控温型<±0.02 K低温段<±0.1 K,高温段<±0.2K一级控温时精度<±0.05 K;二级控温型<±0.01 K
升温速率0.1K/min~10K/min0.1K/min~10K/min0.1K/min~10K/min
磁场大小0~ ± 3000 Oe~1T0~ ± 3000 Oe~1T0~ ±3000 Oe~ 1T
电流范围100fA ~ 100 mA100fA ~ 100 mA100fA ~ 100 mA
电阻范围10 nΩ ~ 200 MΩ10 nΩ ~ 200 MΩ10 nΩ ~ 200 MΩ
电压范围1 nV ~ 100 V1 nV ~ 100 V1 nV ~ 100 V
真空度优于10-3Torr优于10-3Torr优于10-3Torr
VSM选件

灵敏度: < 10-6 emu/tesla

噪音基: 6 x 10-7 emu rms

精确度: < 5 x 10-6 emu/tesla

振动频率: 40 Hz

振动幅值: 0.5- 5mm

灵敏度: < 10-6 emu/tesla

噪音基: 6 x 10-7 emu rms

精确度: < 5 x 10-6 emu/tesla

振动频率: 40 Hz

振动幅值: 0.5- 5mm

灵敏度: < 10-6 emu/tesla

噪音基: 6 x 10-7 emu rms

精确度: < 5 x 10-6 emu/tesla

振动频率: 40 Hz

振动幅值: 0.5- 5mm

热输运选件

Seebeck系数:5μV/K~1V/K

Seebeck精度:0.5μV/K或5%

热导率:重复性误差<5%

Seebeck系数:5μV/K~1V/K

Seebeck精度:0.5μV/K或5%

热导率:重复性误差<5%

Seebeck系数:5μV/K~1V/K

Seebeck精度:0.5μV/K或5%

热导率:重复性误差<5%

样品杆(托)4~16针PCB插拔样品托,可以360°旋转进行磁各项异性测试4~16针PCB插拔样品托,可以360°旋转进行磁各项异性测试;高温探针样品托可定制4~16针PCB插拔样品托,可以360°旋转进行磁各项异性测试

留言咨询


请选择咨询的类型
提交

地址

湖北省武汉市江夏区财富二路8号