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高温热电性能分析仪（TETM-1200）
高温热电性能分析仪TETM系列主要是用于测试块体材料的Seebeck系数及电导率，适用于各种合金、半导体、高温陶瓷、高温复合材料的热电参数测试。
所属分类:
热电性能分析仪
关键词:
产品介绍
高温热电性能分析仪TETM系列主要是用于测试块体材料的Seebeck系数及电导率，适用于各种合金、半导体、高温陶瓷、高温复合材料的热电参数测试。
技术原理
● 静态测量法：
测试过程中给试样两段施加一定的的温差，同时测量样品两端热电势，多次测量温差∆T和热电势之间呈线性关系，其斜率即为seebeck系数。
● 四探针法：
即四点接触法，电流的路径如右图所示，但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法，四探针法测量电阻率有个非常大的优点——不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准，因而测量精度更高。
技术参数
| 型号 | TETM-1200 |
| 温度范围 | RT~1200°C |
| 温控方式 | 红外加热PID定点控温 |
| 升温速率 | 0~50°C/min |
| 真空度 | ≤10Pa |
| 测试气氛 | 真空 |
| 测量范围 | 泽贝克：S≥ 5µV/K； 电阻率：0.1µΩ•m ~ 106µΩ•m |
| 分辨率 | 泽贝克：0.05µV/K； 电阻率：0.05µΩ•m |
| 重复性误差 | 泽贝克 ≤±7%，电阻率 ≤±5% |
| 测量模式 | 自动 |
| 样品尺寸 | 块体，长x宽：(2~5) x (2~5) (mm)；高度：12 ~ 15 (mm) |
| 主机尺寸 | 1000 x 450 x 450 (mm) |
| 重量 | 60kg |
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